测试探针的分类

探针根据电子测试用途可分为：

A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品；

B、在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；优良产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；

C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

探针主要类型：悬臂探针和垂直探针。

悬臂探针：劈刀型（Blade Type）和环氧树脂型（Epoxy Type）

垂直探针：垂直型（Vertical Type）

1、ICT探针　（ICT series Probes)

一般直径在2.54mm-1。27mm之间，有业内的标准称呼100mil，75mil，50mil，还有更特别的直径只有0。19mm，主要用于在线电路测试和功能测试。也称ICT测试和FCT测试。也是目前应用较多的一种探针。

2、界面探针(Interface Probes)

非标准的探针，一般是为少数做大型测试机台的客户定做的，例如泰瑞达（Teradyne)和安捷伦（Agilent)。用于测试机台与测试夹具的接触点和面。

3、微型探针（MicroSeries Probes)

两个测试点中心间距一般为0。25mm至0。76mm。

4、开关探针（Switch Probes)

开关探针单独一支探针有两路电流。

5、高频探针（Coaxial Probes)

用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的。

6、旋转探针（Rotator Probes)

弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试。

7、高电流探针（High Current Probes)

探针直径在2。54mm-4。75mm之间．最大的测试电流可达39amps。

8、半导体探针 (Semiconductor Probes)

直径一般在0。50mm-1。27mm之间．带宽大于10GHz，50Ω characteristic。

9、电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长。

除以上类型外还有温度探针，Kelvin探针等，比较少用。